Picarro宣布用於半導體晶圓廠的氣體分子污染監測系統

-高通量系統以萬億分之一的水平在線檢測關鍵的AMC 加利福尼亞州聖克拉拉市2020年3月25日 /美通社/ –Picarro宣布推出經我們完全優化的AMC監控系統——Picarro SAM（取樣Sample、分析Analyze和監測Monitor）。該系統由Picarro在業界領…