馬里蘭州埃奇伍德–(美國商業資訊)–史密斯探測(Smiths Detection)宣布推出其最新的X光偵測系統HI-SCAN 5030C，該系統以其最理想的尺寸、耐用性和行動性彌補商用安全檢查解決方案的重大空白。 HI-SCAN 5030C結合了市場領先的提供卓越影像品質的HiTraX 3電子平臺，專門設計用於強化從法院到企業園區的安全檢查操作。其緊湊的尺寸和輕巧的結構使其…
史密斯探測面向多功能商業安全應用推出緊湊型X光掃描器 – 美國商業資訊
馬里蘭州埃奇伍德–(美國商業資訊)–史密斯探測(Smiths Detection)宣布推出其最新的X光偵測系統HI-SCAN 5030C，該系統以其最理想的尺寸、耐用性和行動性彌補商用安全檢查解決方案的重大空白。 HI-SCAN 5030C結合了市場領先的提供卓越影像品質的HiTraX 3電子平臺，專門設計用於強化從法院到企業園區的安全檢查操作。其緊湊的尺寸和輕巧的結構使其…